✕
☰
Language
Choose Language:
Katalog

Probe Cobra

  • Probe Cobra - Cantilever Probe
Probe Cobra
model - Cantilever Probe
Karena perkembangan pesat teknologi pemrosesan dan desain semikonduktor baru-baru ini design,frekuensi operasi dan integrasi wafer semikonduktor telah meningkat secara dramatis.Bentuk Pad perangkat yang umumnya digunakan di non-bidang memori memiliki pengaturan 2D yang tidak teratur.Salah satu bentuk probe yang dapat merespon elemen ini adalah kartu probe vertikal vertical
Jarum kobra adalah komponen inti yang digunakan dalam kartu probe vertikal dan menggunakan high-metode penyisipan vertikal kepadatan.
  1. Bahan:P7,SM
  2. Spesifikasi disesuaikan sesuai kebutuhan pelanggan customer
  3. Produksi yang disesuaikan dapat dibuat sesuai dengan gambar dan sampel pelanggan
  4. Kualitas stabil dan pengiriman cepat
  5. Negara Asal:Korea Selatan,Amerika Serikat
Enquiry Now
Produk daftar
View Detail
Probe Cobra - Cantilever Probe
Probe Cobra
Cantilever Probe
Karena perkembangan pesat teknologi pemrosesan dan desain semikonduktor baru-baru ini design,frekuensi operasi dan tingkat integrasi wafer semikonduktor telah meningkat secara dramatis.Umumnya,bentuk pad perangkat yang digunakan di non-bidang penyimpanan memiliki dua yang tidak teratur-pengaturan dimensi.Salah satu bentuk probe yang dapat merespon elemen ini adalah tampilan vertikal probeJarum kobra adalah komponen utama yang digunakan dalam peta probe vertikal dan menggunakan high-metode penyisipan vertikal kepadatan. Bahan:P7,SM Spesifikasi disesuaikan sesuai kebutuhan pelanggan customer Produksi yang disesuaikan dapat dibuat sesuai dengan gambar dan sampel pelanggan Kualitas stabil dan pengiriman cepat Negara Asal:Korea Selatan,Amerika Serikat
View Detail
Probe Cobra - Cantilever Probe
Probe Cobra
Cantilever Probe
Karena perkembangan pesat teknologi dan desain pemrosesan semikonduktor baru-baru ini,frekuensi operasi dan tingkat integrasi wafer semikonduktor telah meningkat secara signifikan.Umumnya,bentuk bantal peralatan yang digunakan di non-ruang penyimpanan memiliki dua yang tidak biasa-pengaturan dimensi.Salah satu bentuk probe yang dapat merespon elemen ini adalah tampilan vertikal probe.Jarum kobra adalah komponen utama yang digunakan dalam peta probe vertikal dan menggunakan high-metode penetrasi vertikal kepadatan. Bahan:P7,SM Spesifikasi disesuaikan sesuai kebutuhan pelanggan customer Produksi yang disesuaikan dapat dibuat sesuai dengan gambar dan sampel pelanggan Kualitas stabil dan pengiriman cepat Negara Asal:Korea Selatan,Amerika Serikat
View Detail
Probe Cobra - Cantilever Probe
Probe Cobra
Cantilever Probe
Perkembangan pesat terbaru dalam teknologi dan desain pemrosesan semikonduktor telah secara signifikan meningkatkan frekuensi operasi dan tingkat integrasi wafer semikonduktor.Umumnya,bentuk bantal peralatan yang digunakan di non-ruang penyimpanan memiliki dua yang tidak biasa-pengaturan dimensi.Salah satu bentuk probe yang dapat merespon elemen ini adalah tampilan vertikal dari probe.Jarum kobra adalah komponen utama yang digunakan dalam peta probe vertikal dan menggunakan metode penetrasi vertikal kepadatan tinggi. Bahan:P7,SM Spesifikasi disesuaikan sesuai kebutuhan pelanggan customer Produksi yang disesuaikan dapat dibuat sesuai dengan gambar dan sampel pelanggan Kualitas stabil dan pengiriman cepat Negara Asal:Korea Selatan,Amerika Serikat